Сокращение затрат на выпуск микрочипов
Исследовательское подразделение IBM сотрудничает с отраслевыми лидерами и университетами стран Европейского Союза для улучшения производительности и надежности проектирования полупроводниковых элементов и электронных систем. Предоставляя систематическую методологию и интегрированную среду для диагностики и исправления ошибок, консорциум DIAMOND, финансируемый Евросоюзом, надеется резко сократить период проектирования и добиться значительной экономии затрат в расчете на один разрабатываемый микрочип.
Новый интегрированный подход позволит обнаруживать и исправлять ошибки на всех уровнях абстракции, от описания технических условий и вплоть до компоновки элементов и межсоединений чипа на кремниевой пластине. Управление этой полной цепочкой уровней позволит использовать все преимущества метода иерархической диагностики и корректировки, охватывающего широкий спектр источников ошибок.
На сегодняшний день приблизительно 70% трудозатрат на проектирование связаны с процедурами проверки и отладки. Две трети этих трудозатрат уходит на поиск и обнаружение источников ошибок, и, затем, на их устранение. По оценкам специалистов, затраты на поиск и устранение ошибок проектирования достигнут в 2010 году $34,5 млн в расчете на один разрабатываемый чип. С помощью проекта DIAMOND, направленного на сокращение этих трудозатрат на 50%, можно потенциально снизить затраты на проектирование до планируемых $17,25 млн в расчете на чип. Уменьшение времени, которое уходит на поиск и исправление ошибок, также приведет к значительному сокращению всего цикла проектирования, снижению общих расходов и ускорению вывода изделий на рынок.
К 2011 году в мире будет функционировать 16 млрд. встроенных устройств – по 3 устройства на каждого человека на планете. Эти цифры делают задачу поиска более эффективных путей выявления дефектов микрочипов критически важной для отрасли.
IBM
Дмитрий Саевич
Новый интегрированный подход позволит обнаруживать и исправлять ошибки на всех уровнях абстракции, от описания технических условий и вплоть до компоновки элементов и межсоединений чипа на кремниевой пластине. Управление этой полной цепочкой уровней позволит использовать все преимущества метода иерархической диагностики и корректировки, охватывающего широкий спектр источников ошибок.
На сегодняшний день приблизительно 70% трудозатрат на проектирование связаны с процедурами проверки и отладки. Две трети этих трудозатрат уходит на поиск и обнаружение источников ошибок, и, затем, на их устранение. По оценкам специалистов, затраты на поиск и устранение ошибок проектирования достигнут в 2010 году $34,5 млн в расчете на один разрабатываемый чип. С помощью проекта DIAMOND, направленного на сокращение этих трудозатрат на 50%, можно потенциально снизить затраты на проектирование до планируемых $17,25 млн в расчете на чип. Уменьшение времени, которое уходит на поиск и исправление ошибок, также приведет к значительному сокращению всего цикла проектирования, снижению общих расходов и ускорению вывода изделий на рынок.
К 2011 году в мире будет функционировать 16 млрд. встроенных устройств – по 3 устройства на каждого человека на планете. Эти цифры делают задачу поиска более эффективных путей выявления дефектов микрочипов критически важной для отрасли.
IBM
Дмитрий Саевич
